標準編號：GB/T 11072-2009銻化銦多晶、單晶及切割片
標準狀態：現行
標準簡介：本標準規定了銻化銦多晶、單晶及單晶切割片的產品分類、技術要求和試驗方法等。本標準適用于區熔法制備的銻化銦多晶及直拉法制備的供制作紅外探測器和磁敏元件等用的銻化銦多晶、單晶及切割片。
英文名稱： Indium antimonide polycrystal,single crystals and as-cut slices
替代情況： 替代GB/T 11072-1989
中標分類： 冶金>>半金屬與半導體材料>>H83化合物半導體材料
ICS分類： 電氣工程>>29.045半導體材料
發布部門： 中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
發布日期： 2009-10-30
實施日期： 2010-06-01
首發日期： 1989-03-31
提出單位： 全國半導體設備和材料標準化技術委員會
材料實驗室
熱門檢測
809
341
665
824
419
501
820
627
355
287
388
290
321
279
1352
250
386
338
501
306
推薦檢測
聯系電話
400-635-0567
掃一掃關注公眾號
