粗波分復用(CWDM)器件檢測
發(fā)布時間：2025-08-25 20:30:12- 點擊數(shù)： - 關(guān)鍵詞：
實驗室擁有眾多大型儀器及各類分析檢測設(shè)備，研究所長期與各大企業(yè)、高校和科研院所保持合作伙伴關(guān)系，始終以科學研究為首任，以客戶為中心，不斷提高自身綜合檢測能力和水平，致力于成為全國科學材料研發(fā)領(lǐng)域服務平臺。
立即咨詢粗波分復用（CWDM）器件檢測技術(shù)及關(guān)鍵檢測項目
一、CWDM技術(shù)概述
二、檢測必要性
三、核心檢測項目及方法
1. 光學性能檢測
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- 定義：信號通過器件后的功率衰減。
- 檢測方法：使用可調(diào)諧激光源（TLS）和光功率計（OPM），對比輸入輸出光功率。
- 標準：Telcordia GR-1209-CORE要求IL≤1.5 dB（典型值）。
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- 檢測設(shè)備：光回損測試儀（如EXFO FTB-500）
- 要求：RL≥40 dB，確保反射光不影響光源穩(wěn)定性。
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- 測試原理：測量目標通道功率與相鄰通道泄露功率的比值。
- 典型值：相鄰通道隔離度≥30 dB，非相鄰≥25 dB。
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- 方法：在0°-180°偏振態(tài)下測試IL最大值與最小值之差。
- 標準：PDL≤0.2 dB（高端器件要求）。
2. 光譜特性檢測
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- 儀器：光譜分析儀（OSA，如Yokogawa AQ6370D）
- 容差：±0.5 nm（ITU-T G.694.2標準）。
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- 定義：-3 dB處通帶寬度需≥13 nm，確保溫度漂移時的信號完整性。
3. 環(huán)境可靠性測試
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- 條件：-40°C至+85°C，循環(huán)50次，每次保持1小時。
- 判定標準：IL變化≤±0.3 dB，波長偏移＜0.2 nm。
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- 參數(shù)：85°C/85% RH，持續(xù)500小時。
- 失效模式：膠水分層導致RL惡化＞3 dB。
4. 機械性能測試
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- 標準：IEC 61300-2-4規(guī)定施加5N拉力持續(xù)1分鐘，IL變化≤0.1 dB。
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- 條件：10-500 Hz，5 g加速度，三軸各振動2小時。
- 通過標準：無結(jié)構(gòu)損傷，光學參數(shù)符合初始值。
四、檢測流程優(yōu)化
五、未來發(fā)展趨勢
- 硅光子集成：新型硅基CWDM器件要求納米級波長精度檢測。
- AI缺陷診斷：基于深度學習的圖像識別技術(shù)檢測微米級劃痕。
- 量子點材料應用：需開發(fā)對應寬溫域（-55~125°C）的極端環(huán)境測試方案。
結(jié)語
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